納米顆粒粒徑譜儀的工作原理多種多樣，但常見的包括激光散射法、電遷移率分析法等。這些方法利用納米顆粒與光、電等物理場的相互作用，通過測量散射光強度、電遷移率等參數(shù)，反推出納米顆粒的粒徑分布。
納米顆粒粒徑譜儀主要特點：
高分辨率：納米顆粒粒徑譜儀通常具有較高的分辨率，能夠精確區(qū)分納米顆粒的微小粒徑差異。
快速測量：該儀器能夠連續(xù)快速地進行測量，提高實驗效率。
寬粒徑范圍：適用于不同粒徑范圍的納米顆粒測量，滿足多種實驗需求。
圖形化顯示：測量結果通常以圖形化方式顯示，便于科研人員直觀分析數(shù)據(jù)。
內(nèi)置數(shù)據(jù)記錄功能：部分納米顆粒粒徑譜儀具備內(nèi)置數(shù)據(jù)記錄功能，可自動保存測量數(shù)據(jù)，方便后續(xù)處理和分析。
四、應用領域
材料科學：用于研究納米材料的粒徑分布、形貌特征等，為材料合成、改性提供實驗依據(jù)。
環(huán)境工程：在空氣污染監(jiān)測、水質檢測等領域，用于測量大氣顆粒物、水體中納米顆粒的粒徑分布，評估環(huán)境質量。
生物醫(yī)學：在藥物載體、生物標記物等領域，用于測量納米顆粒的粒徑分布，評估其生物相容性和藥效。
